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                    NS3500 H 大面積高速三維成像掃描系統

                    簡要描述:NS-3500是一種可靠的三維掃描系統。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構,可以為半導體晶片,FPD產品,MEMS設備,玻璃基板,材料表面等提供各種解決方案。

                    • 產品型號:
                    • 廠商性質:代理商
                    • 更新時間:2023-10-10
                    • 訪  問  量:1233

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                    產地類別進口應用領域能源,電子,冶金,航天,汽車
                    激光405nm

                    NS-3500H 是一種準確、可靠的三維(3D)掃描系統,通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構,可以為半導體晶片,FPD產品,MEMS設備,玻璃基板,材料表面等提供各種解決方案。

                    Features & Benefits(性能及優勢):

                    • 高分辨無損傷光學3D測量                               自動傾斜補償

                    • 實時共焦成像                                                 簡單的數據分析模式

                    • 多種光學變焦                                                 雙Z掃描

                      大范圍拼接                                                    半透明基材的特征檢測

                    • 實時CCD明場和共聚焦成像                            無樣品準備


                    Application field(應用領域):

                    NS-3500是測量低維材料的有前途的解決方案。

                    可測量微米和亞微米結構的高度,寬度,角度,面積和體積,例如

                    -半導體:IC圖形,凹凸高度,線圈高度,缺陷檢測,CMP工藝

                    - FPD產品:觸摸屏屏幕檢測,ITO圖案,LCD柱間距高度

                    - MEMS器件:結構三維輪廓,表面粗糙度,MEMS圖形

                    -玻璃表面:薄膜太陽能電池,太陽能電池紋理,激光圖案

                    -材料研究:模具表面檢測,粗糙度,裂紋分析

                    Dimension(尺寸):

                    Specification(規格):


                    ?Model

                    Microscope  NS-3500

                    備注


                                         NS-3500E

                    物鏡倍率

                    10x

                    20x

                    50x

                    100x

                    150x


                    觀察/  測量范圍  

                    水平 (H): μm

                    1400

                    700

                    280

                    140

                    93


                    垂直 (V): μm

                    1050

                    525

                    210

                    105

                    70


                    工作范圍: mm

                    16.5

                    3.1

                    0.54

                    0.3

                    0.2


                    數值孔徑(N.A.)

                    0.30

                    0.46

                    0.80

                    0.95

                    0.95


                    光學變焦

                    x1 to x6


                    總放大倍率

                    178x to 26700x


                    觀察/測量光學系統  

                    Pinhole共聚焦光學系統


                    高度測量

                    測量掃描

                    長掃描 : 10 mm


                    顯示分辨率

                    0.001 μm


                    重復率 σ

                    0.010 μm

                    注 1

                    寬度測量

                    顯示分辨率

                    0.001 μm


                    重復率 3σ

                    0.02 μm

                    注 2

                    幀記憶

                    像素

                    1024x1024, 1024x768, 1024x384,   1024x192, 1024x96


                    單色圖像

                    12 bit


                    彩色圖像

                    8-bit for RGB each


                    高度測量

                    16 bit


                    幀速率

                    表面掃描

                    20 Hz to 160 Hz


                    線掃描

                    ~8 kHz


                    自動功能

                    自動增益


                    激光共焦測量光源

                    波長

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                    輸出

                    ~2mW


                    激光等級

                    Class 3b


                    激光接收元件

                    PMT (光電倍增管)


                    光學觀察光源

                    10W LED


                    光學觀察照相機

                    成像元件

                    1/2" 彩色圖像 CCD 傳感器


                    記錄分辨率

                    640x480


                    自動調整

                    增益, 快門速度, White balance


                    數據處理單元

                    PC


                    電源

                    電源電壓

                    100 to 240 VAC, 50/60 Hz


                    電流消耗

                    500 VA max.


                    重量

                    顯微鏡

                    Approx. ~200 kg

                    (Measuring head unit : ~12 kg)


                    控制器

                    ~8 kg


                    注1 :以100×/ 0.95物鏡對標準樣品(步長1μm)進行100次測量                                                                    

                    注 2 :以100×/ 0.95物鏡對標準樣品(5μm間距)進行100次測量。



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